上海波铭科学仪器有限公司
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CV-1500非接触CV测试系统

Capability:

  • Semiconductor Surface Barrier-Vsb 表面势垒
  • Oxide Total Charge -Qtot 氧化物总电荷
  • Interface Trapped Charge-Qit 界面电荷
  • Interface Trap Density-Dit 界面态密度
  • Di Spectrum:Dit vs. Vsb
  • Dielectric Capacitance -CD and thickness -CET 介电层电容和电学总厚度
  • Dielectric Leakage 介电层漏电

CV-1500，用于测试界面和介电层的科研平台，基于SDIZLCorona-Kelvin技术，可以进行非接触C-V/I-V测试。
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