上海波铭科学仪器有限公司
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扫描显微技术

提供nm级以及更高分辨率:

Capability:

Surface topography 表面形貌

Electrical properties 电学性质

Chemical properties 化学性质

Magnetically properties 磁学性质

原子力显微镜使用非常小的探针,扫描样品表面,在原子尺度探测样品形貌。Semilab的AFM设备,可灵活配置和测试,具备优异测试稳定性和可靠性。
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