上海波铭科学仪器有限公司
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少子寿命/ μ LBIC变温测试系统

Capability:

  • 低温测试
  • 少子寿命测试
  • μ LBIC 微光诱导电流测试
  • 方块电阻测试

                 

WT-2000MCT/μ LBIC 适用于对超低温有特殊要求的材料,比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等,它已被广泛用于化合物材料的缺陷,杂质和光电效率等参数表征。

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