上海波铭科学仪器有限公司
上海波铭科学仪器有限公司

深能级瞬态谱测试仪

Capability:

  • High sensitivity 高灵敏度
  • C-V characterization 深能级C-V测试
  • Capture cross section measurement 俘获界面测试
  • Optical injection 光注入
  • Conductance transient measurements 瞬态电导测试
  • Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基础测试
  • Cryostats LN2,低温致冷

深能级瞬态谱仪(DLTS)是检测半导体材料和器件缺陷和杂质的技术手段,它可以测定各种深能级相关参数,如深能级,俘获界面,浓度分布等。
热线电话 在线咨询

网站导航