QE-2000荧光量子效率测试系统-上海波铭科学仪器有限公司

详细信息

QE-2000瞬间测量绝对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域的杂散光。另采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系的同时，运用其再激发荧光補正的优点，可进行高精度的测量。
高精度测量（专利：5150939号）：使用低杂散光光谱仪MCPD系列
多次激发补正（专利：3287775号、4631080号）：最大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提高明显
使用积分半球（专利：4216314号）：是普通积分球测试效率的2倍，更易于样品的装夹，更换简单
多种样品都能对应：粉体、溶液、薄膜、固体等等
可添加温控系统：-30~300℃

型号	3683C		311C		2580C		3095C
波长范围	360-830nm		360-1100nm		250-800nm		300-950nm
像元波长宽度	1.0nm	0.5nm	1.6nm	0.8nm	1.2nm	0.6nm	1.4nm	0.7nm
像元数	512	1024	512	1024	512	1024	512	1024
CCD	电子冷却式CCD图像传感器
AD转换精度	16 bit
单色器配置	F/#=3, f=85.8mm
光源	150W氙灯
激发波长	250-800nm
带宽	FWHM 5nm/slit 0.6mm
样品抗光装置	自动关闭装置
激发波长控制	自动控制
积分球材质	Spectralon（美国Labsphere公司专利材料名）
尺寸	150mm 半球
粉末测试样品座	SU304
溶液样品池	石英制溶液比色皿

产品优势

QE-2000瞬间测量绝对量子效率。适用于粉末、溶液、固体（膜）、薄膜样品的测量。通过低杂散光多通道分光检出器，大大减少了紫外区域的杂散光。另采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系的同时，运用其再激发荧光補正的优点，可进行高精度的测量。
高精度测量（专利：5150939号）：使用低杂散光光谱仪MCPD系列
多次激发补正（专利：3287775号、4631080号）：Z大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发, 对粉末和固体测试精度提高明显
使用积分半球（专利：4216314号）：是普通积分球测试效率的2倍，更易于样品的装夹，更换简单
多种样品都能对应：粉体、溶液、薄膜、固体等等
可添加温控系统：-30~300℃