X射线荧光光谱矿产矿石原料固体粉末分析仪XRF光谱仪-苏州英飞思科学仪器有限公司

详细信息

EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿产分析专家

作为一款高性能的台式能量色散X射线荧光（EDXRF）元素分析仪，新款EDX9000B配置了先进的基于Windows基本参数算法的FP（Fundamental parameter）软件，同时配备了ZY的高性能硬件，来满足客户对于复杂矿石样品的元素分析需求。无论客户的样品是是固体，合金，粉末，液体或者浆液，EDX9000B都可以轻松实现从钠（Na）到铀（U）元素的无损定性和定量分析。更快的分析速度，更精确的测试结果，更稳定的仪器性能，使得EDX9000B成为了客户进行元素分析的工具之一。

ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。

EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：

•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用

>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析

>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析

>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等

>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等

>刑侦：证据分析，材料匹配等

>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等

产品特点

作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：

•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果

•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响

•50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同时进行元素和氧化物成分分析

•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

矿产元素检测专家EDX9000B

>仪器参数

仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm

超大样品腔：460mm*310mm*95mm

半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm

仪器重量: 45Kg

元素分析范围：Na11-U92钠到铀

可分析含量范围：1ppm- 99.99%

探测器：AmpTek 高分辨率电制冷SDD硅漂移检测器

多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器

X光管：50W高功率铍窗光管

高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护

电压：220ACV 50/60HZ

环境温度：-10 °C 到35 °C

仪器配置

>标准配置	>可选配置
纯Ag初始化标样	磨样机
真空泵	压片机
矿石专用样品杯	烘干箱
USB数据线	熔片机
电源线	电子秤
测试薄膜	矿石标准样
仪器出厂和标定报告	交流净化稳压电源
保修卡	150目筛子

功能强大而界面友好的测试软件

界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。

软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印

磁铁矿样品10次测试稳定性报告

测量次数 /元素	Fe(%)	SiO2(%)	TiO2(%)	MnO(%)	Zn(%)	S(%)	P(%)	Pb(%)	K2O(%)
1_1	65.4014	6.6936	0.1123	0.0489	0.0090	0.8309	0.0118	0.0076	0.0684
1_2	65.4336	6.6575	0.1038	0.0465	0.0095	0.9092	0.0121	0.0075	0.0667
1_3	65.3603	6.7127	0.1132	0.0495	0.0093	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_4	65.3935	6.7233	0.1278	0.0483	0.0097	0.8303	0.0117	0.0068	0.0684
1_5	65.3812	6.7145	0.1058	0.0493	0.0097	0.8303	0.0117	0.0066	0.0684
1_6	65.3905	6.7421	0.1021	0.0503	0.0097	0.8303	0.0117	0.0065	0.0684
1_7	65.3603	6.7041	0.1075	0.0495	0.0093	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_8	65.4161	6.7280	0.1086	0.0461	0.0093	0.8938	0.0115	0.0074	0.0668
1_9	65.4320	6.7036	0.1182	0.0512	0.0096	0.9005	0.0120	0.0079	0.0669
1_10	65.4546	6.7707	0.1072	0.0502	0.0097	0.8868	0.0121	0.0067	0.0677
平均值Average	65.4024	6.7150	0.1107	0.0490	0.0095	0.8693	0.0118	0.0071	0.0677
标准偏差SD	0.0316	0.0300	0.0077	0.0016	0.0002	0.0340	0.0002	0.0005	0.0007
相对标准偏差RSD	0.0483%	0.4466%	6.9348%	3.3142%	2.5743%	3.9090%	1.6512%	6.6142%	1.0337%
测量次数 /元素	Na2O (%)	MgO (%)	Al2O3 (%)	As (%)	Cr (%)	Ni (%)	Cu (%)	Sn (%)	CaO (%)
1_1	0.0203	0.7523	0.5222	0.0065	0.1636	0.0760	0.0476	0.0131	0.6359
1_2	0.0232	0.8134	0.5230	0.0061	0.1584	0.0787	0.0488	0.0114	0.6336
1_3	0.0213	0.8059	0.5407	0.0071	0.1667	0.0796	0.0494	0.0144	0.6345
1_4	0.0216	0.7635	0.5234	0.0072	0.1640	0.0761	0.0485	0.0131	0.6267
1_5	0.0223	0.7815	0.5334	0.0072	0.1640	0.0751	0.0485	0.0131	0.6267
1_6	0.0222	0.7311	0.5512	0.0072	0.1640	0.0741	0.0485	0.0131	0.6267
1_7	0.0212	0.7559	0.5407	0.0071	0.1667	0.0756	0.0494	0.0144	0.6345
1_8	0.0249	0.7737	0.5233	0.0068	0.1576	0.0760	0.0471	0.0131	0.6324
1_9	0.0204	0.7712	0.5123	0.0064	0.1659	0.0750	0.0475	0.0140	0.6241
1_10	0.0236	0.8017	0.5435	0.0071	0.1663	0.0730	0.0489	0.0130	0.6414
平均值Average	0.0221	0.7750	0.5314	0.0069	0.1637	0.0759	0.0484	0.0133	0.6317
标准偏差SD	0.0015	0.0261	0.0123	0.0004	0.0033	0.0020	0.0008	0.0009	0.0054
相对标准偏差RSD	6.6056%	3.3702%	2.3177%	5.8244%	1.9863%	2.5892%	1.6256%	6.5508%	0.8578%

产品优势

EDX-9000B XRF Spectrometer
能量色散X荧光光谱仪
矿产检测专家
>无损元素分析涵盖11Na to 92U
>适应各种复杂矿物样品测试，固体，液体，合金，粉末和泥浆
>多组合滤光片系统，有效提高微量元素检出限
>坚固的设计适用于于各种复杂而严苛的现场工作环境
Simply the Best
>美国AmpTek -SDD探测器, 高分辨率高计数率
>真空测试环境提供ZY轻元素检测效果