美国CID CI-710叶片光谱探测仪

美国CID CI-710叶片光谱探测仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱。

美国CID CI-710叶片光谱探测仪产品简介：
•CI-700系列之叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱
•通过光谱可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化
•直观的光谱图像和现场数据存储,为植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段

美国CID CI-710叶片光谱探测仪产品特点：
•非常便携，适合于室内或野外使用
•非破坏性测量叶片在400~950nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率
•扫描速度快，灵敏度高
•USB接口连接UMPC数据处理终端
•样品类型，叶片或扁平的物体

美国CID CI-710叶片光谱探测仪标准配置：
•光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱

       

我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。

美国CID CI-710叶片光谱探测仪技术参数：

 

测量方式：	非破坏性测量叶片
测量光谱：	叶片透射、吸收和反射光谱
样品类型：	叶片或扁平的物体
检测器：	CCD线性阵列探测器
扫描波长范围：	400～950 nm
采样速度：	3.8ms-10s
光偏离：	＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
分辨率：	0.3～10.0nm FWHM
采样直径：	7.6 mm
线性修正：	>99.8%
配有CI-700LP叶夹
尺寸：	89.1 x 63.3 x 34.4 cm
重量：	290g