日本KETT LW-990膜厚计测试台

日本KETT LW-990膜厚计测试台人工测量误差减小，对测量管状物很有效。

日本KETT LW-990膜厚计测试台产品简介：

LW-990是通过将膜厚计探针或厚度计的升降部的整体式膜厚计安装于LW-990中，由于膜厚度测量仪的测里开始与测童对象接触--恒定的力和角度，人工测量误差减小，并且可以以高的重复精度测量来执行。如要测量的管状物，这是特别有效的。探针的膜厚计型，和支持双式膜厚计的LZ-990相对应。

我们会努力按照原厂技术参数翻译编辑，如技术参数中英文有差异，以英文参数为准。

日本KETT LW-990膜厚计测试台技术参数：

尺寸重量：150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg

对应传感器：

探头类型：LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J

机身整体式：LZ-990

日本KETT LW-990膜厚计测试台附件：

螺丝，电缆夹，探头支架(黑色和白色)，探针，博尔特，轴支架，内六角扳手，使用说明书

LZ-990使用例子

探针型的使用例子