产品关键词：多通道电致器件稳定性测试、多通道电致器件寿命测试、电致发光、IVL、电致发光量子效率、量子效率、亮度、前向亮度、角度分辨、器件寿命、外量子效率、发光量子产率测量系统、多通道、电致发光器件老化系统、光谱功率分布（ λ）、光谱功率分布（ λ）、光通量、相关色温（CCT）、显色指数（CRI）、电功率密度
产品简介
多通道电致发光特性测量系统EL-Lab是东谱科技 HiOE 综合发光特性测量平台中的重要成员，与东谱科技的电致发光特性测量系统 HiYield 共同为行业提供了完善的电致发光的测量方案。该系统由一系列相应的分布测量组件组成，包括光电测量模块、亮度校准模块、光谱测量模块等。利用该系统组件的分布特性，可以灵活搭建适用于不同类型器件的测量系统。该系统可以便捷地扩展测量通道数量，且可以为不同的测试通道配备相同或者差异的测试功能，从而可以适应丰富的测量场景，如批量测量、手套箱测量、变温测量、老化测量等。
产品特点
□ 多通道批量测量；
□ 可放进手套箱内测试；
□ 支持长时间的多个器件的老化测试；
□ 支持宽温度范围的变温测试；
□ 全面的电致发光测量参数。
关于测试通道：可灵活定制不同数量的测试通道和功能，如：
■ 总测试通道：6 个
■ IVL 测试通道：5 个
■ 光谱测试通道：1 个
■ 老化（稳定性）测试通道：5 个
■ 变温测试通道：选配
产品功能
□ 发光效率参数：外量子效率、电流效率、功率效率等；
□ 电学参数：电压（V）、电流（I）、电流密度（J）、电功率密度等；
□ 辐射度学参数： 光谱功率分布、辐射通量、光视效能、主波长等 ；
□ 光度学参数：亮度、光通量等；
□ 色度学参数： CIE 色度坐标、相关色温（CCT）、MK-1、显色指数等 ；
□ 器件老化参数：不同老化时间下的上述参数；
□ 变温测量等。
规格参数
| 光电测量模块 | 光谱测试模块 | ||
| 波长范围 | 350-1100 nm | 波长范围 | 200-1100 nm |
| 峰值波长 | 970 nm | 积分时间 | 3.8 ms – 10 s |
| 灵敏度 | 0.725 A/W | 动态范围 | 3.4 x 10 ^6 (system); 1300:1 for a single acquisition |
| 有源面积 | 100 mm^2 | 杂散光 | <0.05% at 600 nm; <0.10% at 435 nm |
| 上升/下降时间 | 65 ns(632 nm, RL=50Ω, 5V) | 光学分辨率 | ~1.5 nm(FWHM) |
| 噪声等效功率 | 2.07x10-13 W/√Hz（970 nm, 5 V） | 源表 | |
| 暗电流 | 600 nA (Max. 5V) | 参数 | 电压范围-20 V~20 V；电流范围-120 mA~120 mA； 分辨率 100 pA/0.1 mV |
| 结电容 | 375 pF (Typ. 5V) | ||
产品应用
□ 量子点发光二极管（QLED）；
□ 有机发光二极管（OLED）；
□ 发光二极管（LED）；
□ 钙钛矿发光二极管（PeLED）；
□ 其它各种类型的电致发光器件。
东谱科技（广州）有限责任公司
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