SunScan冠层分析系统

用途： 
SS1-STD3 SunScan冠层分析系统是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。本系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是建议是在接近中午的时候）。

特点：        
·可测量冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）；
·可直接显示叶面积指数（LAI）；
·阴天和晴天均可使用；
·理想的表型的应用程序。

技术规格：
Sunscan传感器
探测区域：长1米×宽13毫米，传感器间距15.6毫米
光谱范围：400~700nm（PAR）
测量时间：120毫秒
大的读数：2500 μmol.m-2.s-1
分辨率：0.3 μmol. m-2.s-1
线性：优于1%
精度：±10%
模拟输出：1mV/μmol. m-2.s-1
通讯端口：RS232，9针D型接口
防护等级：IP65
工作温度：0~60℃
尺寸：1300×100×130毫米
重量：1.7公斤
供电：4节AA碱性电池，大的可以使用1年

产地：英国