LID 光热偏转法弱吸收测量仪

德国Frauhofer IOF公司研发的的LID弱吸收测量系统，采用光热偏转技术，193nm-10.6μm间任何波长可选。

弱吸收仪测量意义

在高功率激光系统中，光学镜片的膜层及体材料吸收较大的话会引起以下热透镜效应进而产生一系列问题：

1.如下图所示的焦距发生变化

2.波前畸变

3.退偏

4.膜层吸收是影响薄膜损伤阈值的一个重要指标

LID原理示意图

此系统采用光热偏转技术，用于测量透明光学材料及镀膜产品受到激光照射后产生的微弱吸收。在强激光照射下，材料内部由于吸收热能产生折射率梯度现象及热膨胀效应（热透镜效应），当一束探测光经过“热透镜”效应区域时发生位置偏移，通过PSD位移传感器测量其位置偏移量。  

LID技术参数