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NIREOS 紧凑型、快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪TRICLOPS

TRICLOPS是一款紧凑型、快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪。它采用基于时域傅立叶变换检测的技术，可以极其精确地监测光源的发射光谱，并测量吸收、透射或反射光谱。

主要特点：

  • 较宽的光谱覆盖范围

  • 光谱分辨率高

  • 可调且快速的刷新率

  • 高灵敏度和吞吐量

  • 光输入采用自由空间或光纤耦合

  • 用户友好的软件界面

  • 小巧轻便，USB-C接口连接电脑

典型应用：

  • 监测光源发射

  • 吸收/透射/反射测量

  • 材料表征

  • 光学镀膜测量

参数：

波长范围

400 - 4500 nm

光谱采集速率

0.5 - 3 Hz

光谱分辨率

10 cm-1

光输入方法

光纤耦合或准直输入*

光纤耦合输入

光纤纤芯直径 ≤ 1mm，NA = 0.33 (f/1.5)

准直输入

10mm直径孔径

光电探测器

Si、InGaAs、2级TE冷却 PbSe

接口

USB-C 2.0

尺寸

180 × 160 × 55mm

重量

1.5 kg

软件

Windows 10/11操作系统

提供图形用户界面和应用程序接口

* 可通过软件进行切换。

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彩色塑料薄膜透射光谱示例


TRICLOPS是一款紧凑型、快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪。它采用基于时域傅立叶变换检测的技术，可以极其精确地监测光源的发射光谱，并测量吸收、透射或反射光谱。较宽的光谱覆盖范围：400 ~ 4500 nm
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