低成本光学链路诊断系统OLI-武汉东隆科技有限公司

详细信息

产品特点

超高采样分辨率和定位精度
采样分辨率1 μm
回损测量范围-10 dB~90 dB
可定制引纤长度，便于匹配实际测量环境
可定制扫描测量长度
支持多通道测量升级

主要应用

光纤微裂纹检测
硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测
FA光纤阵列链路性能检测
光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测

参数

主要参数
基础参数
工作波长1	1290~1330/1530~1570	nm
测量长度2	6 12 45 90	cm
采样分辨率	1	μm
定位精度	0.3	mm
测量时间3	<10s <30s	s
回损测量范围	-20~-100	dB
回损重复精度	±3	dB
硬件
输入电压	AC 220/110V；DC 12V	-
主机功率	60	w
通讯接口	USB	-
引纤长度4	1	m
光纤接口	FC/APC	-
尺寸	W 345 * D 390 * H 165	mm
重量	7.5	kg
储藏温度	0~50	℃
工作温度	0~40	℃
工作湿度	10~70	%RH

备注： 1.可选其它波段； 2.可定制其他长度；3.测量时间与测试长度相关 4.引纤长度可定制。

产品优势

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术，利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取Z终干涉曲线的峰值大小，精确测量整个扫描范围内的回波损耗，进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米，Z低可探测到-80dB光学弱信号，广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。