武汉东隆科技有限公司
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低成本光学链路诊断系统OLI

产品特点

  • 超高采样分辨率和定位精度

  • 采样分辨率1 μm

  • 回损测量范围-10 dB~90 dB

  • 可定制引纤长度,便于匹配实际测量环境

  • 可定制扫描测量长度

  • 支持多通道测量升级


主要应用
  • 光纤微裂纹检测

  • 硅光芯片、PLC波导瑕疵损耗检测

  • FA光纤阵列链路性能检测

  • 光器件、光模块内部耦合点、连接点性能检测


参数

主要参数

基础参数

工作波长1

1290~1330/1530~1570

nm

测量长度2

6       12       45      90

cm

采样分辨率

1

μm

定位精度

0.3

mm

测量时间3

<10s          <30s

s

回损测量范围

-20~-100

dB

回损重复精度

±3

dB

硬件

输入电压

AC 220/110V;DC 12V

-

主机功率

60

w

通讯接口

USB

-

引纤长度4

1

m

光纤接口

FC/APC

-

尺寸

W 345 * D 390 * H 165

mm

重量

7.5

kg

储藏温度

0~50

工作温度

0~40

工作湿度

10~70

%RH

备注: 1.可选其它波段; 2.可定制其他长度;3.测量时间与测试长度相关 4.引纤长度可定制。


OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术,利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取Z终干涉曲线的峰值大小,精确测量整个扫描范围内的回波损耗,进而判断此测量范围内链路的性能。

该系统轻松查找并精准定位器件内部断点、微损伤点以及链路连接点。其事件点定位精度高达几十微米,Z低可探测到-80dB光学弱信号,广泛用于光纤或光器件损伤检测以及产品批量出货合格判定。
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