扫频光谱分析系统 SSA

SSA是一款测量光学器件透射光谱响应的分析系统。其原理采用线性扫频光源对待测器件进行快速扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的光谱响应，进而得到待测器件在不同波长下的损耗分布。该系统还可选配GD、CD、PDL、PMD等光学参数测量，系统内置扫频光源，可应用于光学测量及分析系统的二次开发。