助力《推动大规模设备更新和消费品以旧换新行动方案》

应用举例：

• 荧光寿命成像（FLIM）、磷光寿命成像（PLIM）

• 时间分辨光致发光 (TRPL) 成像

• MicroPL测量（与PL光谱仪耦合）

• 反聚束相关（g(2)）测量

• 载流子扩散成像

• SHG和2PE成像

测试举例:

主要应用：

• 单分子光谱/检测
  

• 时间分辨荧光

• 荧光寿命成像（FLIM）

• 磷光寿命成像（PLIM）

• 荧光相关光谱（FCS）、荧光寿命相关光谱（FLCS）

• 荧光共振能量转移（FRET）

• 双聚焦荧光相关光谱（2fFCS）、扫描FCS（sFCS）

• 脉冲交替激发（PIE）

• 荧光各向异性（偏振）

• 模式匹配分析

• 时间分辨光致发光（TRPL）、TRPL 成像

• 反聚束效应

测试举例：

主要应用：

• 光器件、光模块测量
  

• 光纤长度精确测量

• 硅光芯片测量

• 光谱、群延时测量

测试举例：

主要产品系列：

• WIT-220晶圆光电测试探针台
  

• CA-1000 硅光芯片自动耦合测试系统

• WAT-226高功率晶圆测试系统

• WI-6500 自动晶圆缺陷检测系统