武汉东隆科技有限公司
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【新品推荐】NIREOS TRICLOPS——一款400 ~ 4500 nm 的光谱仪

2024-04-1786


新品

TRICLOPS光谱仪

400 ~ 4500 nm



TRICLOPS是一款紧凑型、快速扫描VIS-NIR-SWIR-MIR光谱仪。它采用基于时域傅立叶变换检测的独特专利技术,可以极其精确地监测光源的发射光谱,并测量吸收、透射或反射光谱。



主要特点

较宽的光谱覆盖范围 ◆

光谱分辨率高 ◆

可调且快速的刷新率 ◆

高灵敏度和吞吐量 ◆

光输入采用自由空间或光纤耦合 ◆

用户友好的软件界面 ◆

小巧轻便,USB-C接口连接电脑 ◆

典型应用

◆ 监测光源发射

◆ 吸收/透射/反射测量

◆ 材料表征

◆ 光学镀膜测量




彩色塑料薄膜透射光谱示例

参数

波长范围400 - 4500 nm
光谱采集速率0.5 - 3 Hz
光谱分辨率10 cm-1
光输入方法光纤耦合或准直输入
光纤耦合输入光纤纤芯直径 ≤ 1mmNA = 0.33 (f/1.5)
准直输入10mm 直径孔径
光电探测器SiInGaAs2TE冷却 PbSe
接口USB-C 2.0
尺寸180 × 160 × 55mm
重量1.5 kg
软件

Windows 10/11操作系统

提供图形用户界面和应用程序接口

* 可通过软件进行切换。

武汉有限公司创立于1997年。产品涵盖科研及工业应用的各个环节,主要涉及光谱影像、激光光束诊断、气体传感、单光子计数、光链路测量、超快超强激光系统六大光学应用领域。
成立至今,秉持“服务创造未来”的宗旨,为客户提供迅捷、高品质的服务,倍受广大客户的信赖。在多年技术积累的同时,聚集了一批光学、电学的技术人才,能够针对客户需求提供优质的产品及专业的解决方案。先后同欧美日多家厂商建立了全面深入的合作,并联合成立了开发、应用、服务技术中心。
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