扫描探针显微镜SPM 原子力显微镜AFM 纳米级表面形貌粗糙观测 CSPM5500

仪器分类: AFMSTM: 恒流模式，恒高模式，I-V曲线，I-Z曲线等AFM: 接触，轻敲，相移成像等模式空间分辨率: 4096*4096样品尺寸: 45*45*30mm样品台移动范围: 30mm