手持式四探针方阻测试仪-北京创诚致佳科技有限公司

详细信息

HT-391手持式四探针方阻测试仪参照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》；GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》；GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集集成电路恒流源系统，可充电式电源系统，上下限设定。

概述：

参照硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》；GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》；GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》，采集集成电路恒流源系统，可充电式电源系统，上下限设定。

功能介绍：

手持式外型结构，适用于车间生产、品管抽检，外出携带测量的场所；也适用于中小型半导体材料生产企业.

参数资料：

规格型号Specification model	HT-391A	HT-391B	HT-391C
1.方块电阻范围sheet resistance	10～2.00×102Ω/□	10～2.00×103Ω/□	10～2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity	1～2×103Ω-cm	1～2×104Ω-cm	1～2×105Ω-cm
3.分辨率resolution	0.01Ω	0.01Ω	0.01Ω
4.显示读数display	液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness.
5.测试方式test mode	单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power	5V.1000mA
7. 误差errors	≤4.5%（标准样片结果standard samples）
8.选配choose to buy	选配1.方形探头；选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle.gilded copper hemispherical needles.

参数资料

规格型号specification model	HT-392A	HT-392B	HT-392C
1.方块电阻范围sheet resistance	0.1～2.00×102Ω/□	0.1～2.00×103Ω/□	0.1～2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity range	0.01～2×103Ω-cm	0.01～2×104Ω-cm	0.01～2×105Ω-cm
3.分辨率resolution	0.01Ω	0.01Ω	0.01Ω
4.显示读数display	液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
5.测试方式test mode	单电测量/ single electrical measurement
6.工作电源working power	5V.1000mA
7. 误差errors	≤4.5%（标准样片结果standard samples）
8.选配choose to buy	选配1.方形探头；选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.

HT-393系列手持式方块电阻测试仪

技术参数资料

规格型号specification model	HT-393A	HT-393B	HT-393C
1.方块电阻范围sheet resistance	0.01～2.00×102Ω/□	0.01～2.00×103Ω/□	0.01～2.00×104Ω/□
2.电阻率范围resistivity range	0.001～2×103Ω-cm	0.001～2×104Ω-cm	0.001～2×105Ω-cm
3.分辨率resolution	0.001Ω	0.001Ω	0.001Ω
4.显示读数display	液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
5.测试方式test mode	单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power	5V.1000mA
7.误差errors	≤4.5%（标准样片结果standard samples）
8.选配choose to buy	选配1.方形探头；选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.

HT-394系列手持式四探针电阻率测试仪

技术参数资料

规格型号model	HT-394A	HT-394B	HT-394C
1.方块电阻sheet resistance	0.001～2.00×102Ω/□	0.001～2.00×103Ω/□	0.001～2.00×104Ω/□
2.电阻率resistivity range	0.0001～2×103Ω-cm	0.0001～2×104Ω-cm	0.0001～2×105Ω-cm
3.分辨率resolution	0.001Ω	0.001Ω	0.001Ω
4.显示读数display	液晶显示：电阻率、方阻、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 LCD: resistivity. sheet resistance. unit conversion. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness
5.测试方式test mode	单电测量single electrical measurement
6.工作电源working power	5V.1000mA
7.误差machine uncertain errors	≤4.5%（标准样片结果standard samples）
8.选配choose to buy	选配1.方形探头；选配2.直线形探头；探针间距；选配3：探针间距1mm；2mm；3mm三种规格; 选配4：探针材质：碳化钨针;镀金磷铜半球形针1.square probe; 2. linear probe; 3.Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes.4.Select probe material: tungsten carbide needle. gilded copper hemispherical needles.

适用范围：

1.覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试

2.硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，

3.EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，

4.抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等，

功能描述：

1. 四探针单电测量方法

2. 液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.

3. 集成电路系统、恒流输出.

4. 提供中文或英文两种语言操作界面选择

参照标准：

1.硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）.

2.GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》

产品优势