深圳市锐测电子科技有限公司
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DDR5内存测试系统

DDR5 RDIMM及支持下一代MR-DIMM单体测试验证系统 (DDR5 MR-DIMM Module Test System), 支持的速率可高达17.4Gbps.

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The M5513 is an all-inclusive memory test system for next-generation DDR5 multiplexed-rank dual inline
memory modules (MR-DIMM). Operating at blisteringly fast speeds, this test system is an ideal solution for longterm
DIMM development and test. It contains a complete side-band bus controller and provides full access to all
command, address, and data pins on a standard 288-pin DIMM under test. The M5513 can characterize the DDR
interface at its maximum speed, and it can also perform exhaustive memory read-write testing and functional

stress testing. A true ATE-on-Bench, the M5513 reduces cost and enhances interoperability of DDR5 systems.

M5513是一款适用于下一代DDR5多路复用列双列直插存储器的全包式存储器测试系统

存储器模块(MR-DIMM)。该测试系统以极快的速度运行,是长期运行的理想解决方案

DIMM开发和测试。它包含一个完整的边带总线控制器,并提供对所有

测试中的标准288引脚DIMM上的命令、地址和数据引脚。M5513可以表征DDR

接口的速度,它还可以执行详尽的内存读写测试和功能

压力测试。M5513是一款真正的台式ATE,它降低了成本,增强了DDR5系统的互操作性。


DDR5 RDIMM及支持下一代MR-DIMM单体测试验证系统 (DDR5 MR-DIMM Module Test System), 支持的速率可高达17.4Gbps.
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