晶圆缺陷检测产品列表
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- CI8化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置
- 品牌：列真株式会社
- 型号： CI8
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- LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷检查装置
- 品牌：列真株式会社
- 型号： LODAS™ – AI50/100
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- LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷检查装置
- 品牌：列真株式会社
- 型号： LODAS™ – BI8
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- LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷检查装置
- 品牌：列真株式会社
- 型号： LODAS™ – BI12
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- LODAS™ – LI
- 品牌：列真株式会社
- 型号： LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷检查
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- iFocus晶圆检测系统
- 品牌：其它品牌
- 型号： iFocus
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- UltraINSP 晶圆表面缺陷检测系统
- 品牌：其它品牌
- 型号： UltraINSP
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