LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪

LTTL-3DS 型多功能缺陷荧光光谱仪是测量固体发光材料三维光谱的测量装置。热释光三维发光谱，即包含温度和波长与发光强度的三维图谱的测定有助于识别发光中心的类型和了解相关的缺陷结构，为了解热释光的发光机制研究提供更加丰富的参数。LTTSL-3DS型增加了激发光源，包括X射线、紫外光源和红外光源等，以及制冷型高灵敏稳定性探头以提高三维光谱品质，也可以测量光激发下的材料发光谱。

仪器可以实现液氮温度(80K)到高温（773K）的温度控制，能够对发光材料中的浅能级陷阱进行分析，特别适合闪烁体、长余辉材料等发光材料的研究工作。仪器质量可靠，造形美观，使用方便，温度控制稳定精确，涉及多项ZG技术。仪器采用了模块化设计，可根据用户需求增减，可满足不同层次的客户需求。

主要技术性能：

l  实现多种测量模式：

1)        热释光三维光谱

2)        热释光发光曲线

3)        光释光三维光谱

4)        光释光发光曲线

5)        辐射发光光谱测量

6)        余辉衰减光谱测量

7)        余辉衰减曲线测量

8)        X射线荧光谱测量

l  原位X射线、紫外光激发方式，X光管管电压：0-50kV，管电流：0-200µA，参数可调；

l  光谱测量采用高灵敏度CCD光谱测量系统，波长测量范围：350－1000nm(可定制)；

l  波长测量分辨率：1-10nm（取决于光栅和狭缝）；

l  测量探头：单光子PMT探测器，光谱响应范围300-650nm，计数率线性范围大于2×106/s

l  液氮制冷系统；

l  采用高稳定性加热器，温度测量范围：80K－773K，升温速率范围：0.1-5K/s，温度稳定度：小于±0.5K（60s连续观测）；

l  可设置辐照激发、预热、测量和退火等多种测量阶段，每段温度、时间、升温速率都可调；

l  样品尺寸： 直径小于10mm，厚度小于1mm；

l  配置连续谱光源（配置单色仪，氙灯），可选不同波段激光光源；

l  USB数据接口；

l  仪器输出数据格式:包含二进制和文本格式，可供数据分析软件进一步分析；

l  控制软件运行环境：Windows XP、Windows7等操作系统。提供曲线查看，三维光谱显示和升温曲线显示等功能；

l  仪器参数设置刻度：包括加热系统和光谱系统的刻度参数；

l  本底自动扣除功能，可以设定测量本底信号的时间；

l  提供配套的热释光分析软件，内置热释光一级、二级、一般极动力学模型，并可进一步对发光曲线进行拟合、解谱分析等；

l  输入电源：AC220±10% 50/60Hz，最大功率500W。