深圳市蓝星宇电子科技有限公司
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日本JEOL电子探针显微分析仪 JXA-iHP100

JXA-iHP100 电子探针显微分析仪


可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。


产品规格:

检测元素范围

WDS:(Be)*1 /B~U, EDS:B~U

X射线检测范围

WDS检测的波长范围:  0.087~9.3nm,
EDS EDS检测的能量范围:  20keV

分光谱仪数量

WDS: 1~5道可选、EDS: 1台

最大样品尺寸

100mm × 100mm × 50mm(H)

加速电压

0~30kV(以0.1 kV为步长)

束流电流范围

10-12 ~ 10-5 A

束流电流稳定度

5%/h, ±0.3%/12h(W)

二次电子分辨率

6nm(W), 5nm(LaB6)*2
(W.D. 11mm, 30kV)

扫描倍率

×40 ~  ×300,000(W. D. 11mm)

扫描图像分辨率

最大 5,120× 3,840

彩色显示器

EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024
SEM操作、 EDS分析用:  LCD 1,280 × 1,024

光学显微镜


分辨率

~1um

焦深

1um

真空系统

机械泵、分子泵、离子泵                           *2

真空度

样品室:  优于8.0 x 10-4Pa,
电子枪:  优于9.0 x 10-5Pa


产品特点:

· 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。

· 日本电子新开发出的EPMA (电子探针)秉承近半个世纪的EPMA的发展历史,JXA-8230具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析,这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-8230电子探针是下一代能完全满足多种需求的强 力分析工具之一。

· 

· EPMA快速启动

· 点击任何一点,就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。

· 


· 用户菜单(User recipes)

· 能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件,菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。

· 

· 

· EDS 的性能

· 数字化脉冲处理器

· 全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描)

· 无风扇SDD (选配)

    

 



电子枪: 场发射加速电压: 详见资料放大倍数: 详见资料分辨率: 详见资料抽真空时间: 详见资料真空度: 详见资料
日本JEOL电子探针显微分析仪JXA-iHP100 ,可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器,组合使用WDS和EDS,能提供无缝、舒适的分析环境。
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