深圳市蓝星宇电子科技有限公司
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日本JEOL 离子切片仪 EM-09100IS

EM-09100IS 离子切片仪


 

用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0°到6°)的氩离子束通过遮光带照射样品,大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好,对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。


· 产品规格


EM-09100IS

离子加速电压

1 ~ 8kV

倾斜角

Up to 6°(0.1°/步)

离子束直径

500μm(FWHM)

Milling rate

5m/min (加速电压:8 kV, Si换算) 

使用气体

氩气

最大样品尺寸

2.8mm(长度)×0.5 mm(宽度)×0.1mm(厚度)

压力测试

潘宁规

主抽真空系统

涡轮分子泵

CCD相机

内置

尺寸 重量

主机

500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、63kg

机械泵

150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg

液晶显示器

326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg


· 安装条件


EM-09100IS

电源

单相,  AC100 ~ 120V, 50/60Hz, 500 ~ 600VA

接地线

独立地线(100Ω以下)

氩气

使用压力: 0.15±0.05MPa(1.0 ~ 2.0kg/cm2)
氩气流量:约0.2立方厘米
纯度: 99.9999%以上 (氩气、气瓶及调压器由客户自备)
金属配管连接口:JISB0203 RC1/8

室温

20 ~ 25℃(fluctuation: 1°C/hor less变动少于1°C/h)

湿度

60% 以下

· *请提供安放设备的桌子。

· *产品外观及技术规格可能未经预告而有所变更。


产品特点:

· 用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法

· 离子切片仪制备薄膜样品除了需要将样品切成矩形薄片外,不需要溶剂或化学试剂及前处理(打磨或凹坑研磨),比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0°到6°)的氩离子束通过遮光带照射样品,大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好,对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。


· 主要特点:

· 高质量的透射电镜样品的前处理

· 快速制备

· 无需复杂的前处理

· 最小限度的表面损伤



日本JEOL 离子切片仪 EM-09100IS,用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER样品制备的创新方法 离子切片仪制备薄膜样品比传统制备工具快速、简单。低能量、低角度(0°到6°)的氩离子束通过遮光带照射样品,大大降低了离子束对样品的辐照损坏。即使是柔软的材料,制备的薄膜质量也极好,对不同成份的样品甚至含有多孔合成物也都能够有效制备。
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