北京培科创新技术有限公司
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JSM-F100 热场发射扫描电子显微镜

新操作导航SEM Center-集成了EDS操作

新开发的操作GUI“SEM Center”将SEM成像观察和EDS分析整合在一起,实现了图像观察和元素分析的无缝数据采集。

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◇ 新功能Zeromag

 “Zeromag”,结合了从光学图像到SEM成像的无缝转换,很容易定位试样目标微区。


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◇ 新功能Live-AI filter(实时图像视觉增强器人工智能过滤器) option

配备人工智能Live-AI filter。与图像集成处理不同,这种新的过滤器可以显示无缝移动的实时图像,没有残留图像。这种独特的特征对于快速搜索观察区域、聚焦和消像散调整非常有效。


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◇ In-lens 肖特基-Plus场发射电子枪(FEG)

电子枪和低像差聚光镜的增强集成实现了更高的亮度。能够有效收集电子枪产生的电子,即使低加速电压下也能得到数pA-数十pA的电流,支持高分辨观察、高速元素分析和EBSD分析。


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◇ 混合透镜(HL)

混合透镜(HL)是静电和电磁场透镜的组合,支持从磁性材料到绝缘体等各种样品的高空间分辨率成像和分析


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◇ Neo Engine

Neo Engine是一种前沿的电子光学控制系统,在自动功能的精度上有了显著的提高,可操作性也更高。即使变更电子光学条件,光轴也不偏差,操作性和观察精度大幅提高。可以说是JEOL电子光学技术的结晶。


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◇ ACL

JSM-F100包括一个光阑角孔优化透镜(ACL)。ACLYZ入射电子的扩散,以始终保持最小的探头。这是通过对孔径角度的优化控制来实现的,以适应探头电流的大变化,使扫描电镜的操作包括高分辨率成像和x射线分析顺利进行。


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◇ 检测器

4个检测器。标配SED (二次電子検出器)、UED(上方検出器) 、可选件RBED、USD


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UED and USD

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RBED and SED

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基本参数


标准

低真空

分辨率(1kv

1.3 nm

分辨率(20kv

0.9 nm

放大倍率

×10 to 1,000,000 (128 mm × 96 mm的显示尺寸规定放大倍率)

加速电压

0.01 to 30 kV

探针电流

A few pA to 300 nA (30 kV), a few pA to 100   nA (5 kV)

检测器(标准)

UEDSED

电子枪

浸末式肖特基场发射电子枪

ZJ光阑角控制

内置

物镜

混合物镜(HL

样品台

全对中测角样品台

样品移动

X: 70 mm, Y: 50 mm, Z: 2 to 41 mm, 倾斜角: 5 to 70° , 旋转: 360°

马达驱动

五轴马达驱动

样品交换室

zui大直径:170mm,zui大高度:45mm(WD 5mm)

大景深模式(LDF

内置

标准检测器(LV

低真空二次电子检测器(LVBED

分辨率(LV

1.8nm(30kv)

压力范围(LV

10Pa    to  300Pa

压差光阑控制

自动控制

充入气体

真空系统

SIP × 2TMPRP × 1

SIP × 2TMPRP × 2


电子枪: 场发射

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