北京培科创新技术有限公司
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PL1光致发光时间分辨共焦显微镜


——高度集成,广泛应用于材料科学,具有单分子探测能力


特点

-300nm-1050nm范围内具有单分子级检测能力。

-宽范围时间寿命测量能力:标准100ps-100ms,频域技术可低至10皮秒

-荧光强度和寿命成像可同时获得(空间分辨率可达衍射极限低至250nm

-光学切面3D扫描,分辨率低至50nm

-扫描最大样品区域可至100×100mm

-集成软件(64bit),具有系统控制,数据采集和分析能力

-集成设计,具有灵活定制化能力,满足客户不同研究领域的灵活配置,提升研究效率

 

应用

-材料科学研究

-半导体材料表征

-太阳能电池材料

-晶体材料

-其他光致发光材料

 

PL1创新性设计

PL1是一种操作简便高度集成的激光共焦扫描荧光成像设备,能最大限度的为客户提供高效稳定的使用时间,便捷的测试能力。PL1提供高灵敏度检测能力,是一种理想的材料科学单分子测量仪器,易于操作。

 

常规测量能力

Ø  强度和荧光寿命成像

-光致发光共焦强度成像

-光致发光共焦寿命成像,XYZT多维度,具有扫描和单点模式

Ø  FFS荧光变动光谱

-荧光相关光谱(FCS)

-光子计数直方图(PCH

-荧光寿命相关光谱(FLCS

 Ø  单分子成像

-Burst分析

-单分子FRET荧光共振能量转移分析

 

 

应用案例

量子点

量子点.jpg

Figure 1Phasor plots相量图可独立区分基体涂层量子点荧光寿命种类,直接从原始数据获得。激发波长470nm,发射波长499-632nm(荧光),475/35nm(反射),扫描区域17.5μm×17.5μm。(Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West LafayetteIN;USA)

 

钙钛矿表征

钙钛矿.jpg

Figure 2钙钛矿高空间分辨率共焦荧光寿命成像及光致发光(荧光)强度。ISS VistaVisiontion提供最小化数据拟合算法和相矢量图寿命分析;如,使用多图相图常规分析方法,不同钙钛矿样品的荧光寿命可以通过鉴定原始数据相矢量图立即获取(无需数据拟合),使得荧光寿命分析更简便和准确。激发波长488nm;发射光谱通过635nm长通滤波器;扫描区域:20μm×20μm

 

纳米粒子荧光上转换

荧光上转换.jpg

Figure 3上转换纳米粒子共焦寿命成像,包含高空间分辨率光致发光强度和寿命。激发波长980nm,发射波长509-552nm。扫描区域20μm×20μm


-300nm-1050nm范围内具有单分子级检测能力。
-宽范围时间寿命测量能力:标准100ps-100ms,频域技术可低至10皮秒
-荧光强度和寿命成像可同时获得(空间分辨率可达衍射极限低至250nm)
-光学切面3D扫描,分辨率低至50nm
-扫描zuida样品区域可至100×100mm
-集成软件(64bit),具有系统控制,数据采集和分析能力
-集成设计,具有灵活定制化能力,满足客户不同研究领域的灵活配置,提升研究效率

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