动态测比表面和静态容量法测比表面及孔径的区别

       比表面及孔隙度分析仪用于检测与分析粉体材料的表面特性：
       比表面：单位质量粉体的总表面积（m2 /g）
       孔径分布（孔隙度）：单位质量粉体表面孔容随孔径的变化，包括总孔体积、平均孔径、孔容-孔径分布、zui可几孔径等

氮吸附法
       超细粉体表面十分复杂，对其表面积和孔径分布无法直接测量，氮吸附法利用固体材料的低温物理吸附特性，用氮分子做“量具”，测出粉末表面的氮气吸附量，进而采用各种物理模型，准确计算出比表面及孔容-孔径分布。
相关的国家和国际标准 
   ISO－9277 / GB/T19587-2004  气体吸附BET法测定固态物质比表面积
   ISO 15901-2:2006 / GB/T21650.2-2008  气体吸附法分析介孔和大孔
   ISO 15901-3 / GB/T---2009  气体吸附法分析微孔

关于介孔孔径分析和微孔孔径分析
按孔径尺寸分类，≤2nm称为微孔，2-50nm称为介孔，≥50nm称为大孔
1. 介孔与大孔的孔径分析（孔径范围 2-500nm）
   从气体吸附规律发现，在毛细孔引力的作用下，气体分子可被吸入孔中并形成凝聚体，产生毛细凝聚现象所需的压力与孔径尺寸有定量对应关系，只要测出不同压力下孔内填充的气体量，便可计算出不同孔径孔的体积及其分布。
2. 微孔总孔体积分析:
   在介孔分析的基础上，用t-图法、DR法，推出﹤2nm 微孔的总孔体积。
3. 微孔孔径分布的精细分析（孔径范围 0.35-2nm）：
   直径＜2nm的孔称为微孔，在微孔的情况下，孔壁间的作用势能相互重叠，对气体的吸附能力比介孔大得多，要在很低的压力下产生气体的填充，介孔的分析模式已不适用，需用专门的微孔分析模型，如HK、FS、DFT等进行分析，才能得到微孔的分布曲线，对仪器软硬件的要求比介孔分析复杂的多。