布鲁克 DektakXT 台阶仪
布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供更高的重复性和分辨率,测量重复性可以达到5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领xian地位。不论应用于研发还是产品测量,通过在研究工作中的广泛使用,DektakXT一定能够做到功能更强大,操作更简易,检测过程和数据采集更完善。第十代DektakXT台阶仪(探针式表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。
利用独特的直接扫描平台,DektakXT通过减少从得到原始数据到扣除背底噪音所需要的时间,来提高扫描效率。这一改进,大大提高了大范围扫描3D形貌或者对于表面应力长程扫描的扫描速度。在保证质量和重复性的前提下,可以将数据采集处理的速度提高40%。另外,DektakXT采用Bruker 64-Bit数据采集分析同步操作系统Vision64,它可以提高大范围3D形貌图的高数据量处理速度,并且可以加快滤波器的工作速度和多模式扫描时的数据分析处理效率。Vision64还具有最有效直观的用户界面,简化了实验操作设置,可以自动完成多扫描模式,使很多枯燥繁复的实验操作变得更快速简洁。
与DektakXT的创新性设计相得益彰的配置是Bruker的Vision64操作分析软件。Vision64提供了操作上最实用简洁的用户界面,具备智能结构,可视化的使用流程,以及各种参数的自助设定以满足用户的各种使用要求,快速简便的实现各种类型数据的采集和分析。
DektakXT 技术参数
—单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围
参数:
测试技术 | 探针式表面轮廓测量技术(接触模式) |
测量范围 | 二维表面轮廓测量 可选择三维测量以及数据分析 |
样品观测 | 可选择放大倍数,视场(FOV)范围:1~4mm |
探针传感器 | 低惯性量传感器 (LIS 3) |
探针作用力 | LIS 3 传感器中 1~15mg |
低作用力模式 | N-Lite+ 低作用力 0.03~15mg |
探针选项 | 探针曲率半径 50nm~25um 高径比针尖(HAR)10um×2um 和200um×20um ;也可以采用客户定制针尖 |
样品 X/Y 载物台 | 手动 X/Y(4英寸):100mm*100mm,可手动校平 自动 X/Y(6英寸):150mm*150mm,可手动校平 |
样品 R/Ɵ 载物台 | 手动,360度连续旋转 自动,360度连续旋转 |
计算机系统 | 64位多核并行处理器,Windows® 7 系统;可选配23英寸平板显示器 |
软件 | Version 64 操作分析软件,应力测量软件,悬臂偏转测试软件; 选配:缝合软件;3D应力分析软件;3D测量软件 |
咨询:182 6326 2536(微信同号)
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