日本电子株式会社

镀膜厚度测量

2016-05-043094

资料简介：
无损检测，样品可以不被破坏；Z多可测量五层，采用JEOLZxinFP法软件，无需标样皆可进行测量，是检测和操作都变得非常方便。

文件大小：410.9KB

建议WIFI下载，土豪忽略

日本电子株式会社

仪器网(yiqi.com)--仪器行业网络宣传传媒

网站导航