日本电子株式会社

镀膜厚度测量

2016-05-043063

资料简介：
无损检测，样品可以不被破坏；Z多可测量五层，采用JEOLZxinFP法软件，无需标样皆可进行测量，是检测和操作都变得非常方便。

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