Park NX15不仅非常适合共享实验室里的研究人员处理各种样品、进行多变量实验,也同样适合故障分析工程师处理晶圆的系统性工作。
便捷的样品测量(包含多样品扫描)
一次可对多个样品自动成像
设计的多样本卡盘,一次至多可装载9个单独样品(可选)
全电动XY样品台行程可达 150 mm x 150 mm
通过消除扫描器串扰进行精准的XY扫描
独立闭环XY和Z柔性扫描器
正交XY扫描
无需软件处理即可保留真实可信的样品表面形貌信息
真正非接触模式实现探针使用寿命、成像分辨率和样品的有效保护
快速的Z伺服速度,实现真正的非接触模式
针尖磨损微小化,可实现长时间的高质量和高分辨率成像
多种模式和选项
全面性的测量模式和表征方法
可实现可选配件和升级扩展功能
用于故障分析(FA)的精密电学测量
Park NX15 参数
扫描器
Z扫描器
柔性引导高推动力扫描器
Z扫描范围:15μm(30 μm可选)
XY扫描器
闭环控制式单模块柔性XY扫描器
扫描范围:100μmx 100μm
光学
带视觉相机的同轴光学系统
物镜:10x放大
视场:
480 μm X 360 μm(默认 120 万像素视觉相机)
840 μm X 630 μm( 默认 500 万像素视觉相机)
电路系统
信号处理
ADC: 用于 X,Y和Z 扫描器位置传感器的 24 位 ADC
DAC: 用于 X,Y和Z 扫描器定位的 20 位 DAC
样品台
Z位移台行程范围:25.5 mm
XY位移台行程范围:150 mm X 150mm
样品大小:可满足150 mm wafer 样品
上海珩泽科技有限公司
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