美国TA DIL 820 垂直式热膨胀仪 技术优势
DIL 820 系列仪器在工作时保持垂直取向,能够设定独特的参数执行以下操作:分析烧结状态、进行速率控制烧结 (RCS) 测定,以及确定软化温度。
DIL 820 系列共有 4 个版本,都配备了分辨率达 1nm 的新型光学编码器。若搭配使用 DIL822 的独特真实差分测量技术,便可助您轻松获得出类拔萃的测量灵敏度和准确度。
该款立式膨胀仪装配的直线电机在实验中自始至终提供恒定推力,确保不管样品尺寸如何改变,始终用最轻柔的力推动测量部件,保持其与样品接触。
美国TA DIL 820 垂直式热膨胀仪 测量原理
不同于卧式膨胀仪,立式设计不需要支撑样品。试样被放置在底板上,不受别的部件支撑,推杆顶住其顶端。
立式设计尤其适用于高温测量合成研究对象与粉末样品。如果要在高温下长时间使用膨胀仪检测样品,保持垂直取向,便可防止测量系统和炉管下垂,延长仪器的使用寿命。
增量式光学编码器的测量范围宽,分辨率高达 1 nm。用户便可选用较小的试样,由于热梯度下降,测量结果的精度明显提升。此外,直线驱动器确保试样载荷高度精确、真正恒定不变,具体值从 0.01 N 至 1 N 不等。
美国TA DIL 820 垂直式热膨胀仪 测试应用
TA 出品的立式膨胀仪集技术创新与 DIL 820 系列的设计于一体,是您进行高烧结率测定、检测高收缩样品的膨胀性能的得力助手。
举例来说,WinTA 软件新发布了 T-RCS(真实速率控制烧结)功能,该功能支持仪器自动校正加热廓线,确保烧结陶瓷生坯时实现恒定的烧结率(单位时间的收缩量)。样品真实的收缩量必须被实时记录和解读。DIL 822 和 DIL 822HT 配备了真实差分测量系统,可wan美满足这些要求。
再举一例,在样品下方或顶部放置氧化铝圆盘后,用户便可将样品温度最高升至其软化点,在高温下测量样品的膨胀性能,又不会损坏测量系统。立式设计的核心优势为不需要将样品放置在支架上。这就从根本上解决了样品在收缩/膨胀过程中与支架相互摩擦的问题,因此,不仅避免这种摩擦损坏测量系统,还消除了可能与这种摩擦相关的任一种乃至所有测量误差。
此外,由于立式设计能够精确控制向试样施加的力度,有效防止试样崩塌或松垂,所以可十分方便地测量易碎、粉状或软化的样品。
美国TA DIL 820 垂直式热膨胀仪 技术参数
DIL 821 | DIL 822 | |
样品长度 | 0 至 25 mm | |
样品直径: | 12 mm | 6 mm |
样品支架材质: | 熔融石英、Al2O3(氧化铝)、蓝宝石 | |
接触力: | 0.01 N 至 1.0 N | |
位移变化: | 5 mm | |
分辨率 ΔL/℃: | 1 nm,0.05 ℃ | |
α 精度: | 0.03 × 10-6 K-1 | 0.01 × 10-6 K-1 |
气氛: | 真空、惰性气体、空气 | |
温度范围: | 室温至 1100 ℃,S 型 室温至 1500 ℃,S 型 100 ℃ 至 1700 ℃,B 型 |
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