使用 Agilent 7900 电感耦合等离子体质谱仪对纳米材料进行单颗粒分析

2014-09-05566

资料简介：
在本文中，我们使用 Agilent 7900 ICP-MS 测定单个 NP 峰信号并对其性能进行了评估。7900ICP-MS 拥有全新的正交检测器系统，积分时间可快至 100 μs，TRA 读数之间无需稳定时间，而且 TRA 模式的整体采集速度比 7700x 快 30 倍，可实现瞬时信号的快速测量。

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