| 资料简介： | |
| SunScan专业版冠层分析仪是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan冠层分析系统不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是**是在接近中午的时候）。专业版比标准版配置上增加了BF5日照传感器，用来参照测量直接和散射的入射光，提高测量精度。 | |
| 文档标签： | 冠层分析仪 植物冠层分析 叶面积指数仪 |
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