Filmetrics F10-HC 光学膜厚测量仪

Filmetrics F10-HC 薄膜厚度测量仪

有价格优势的先进薄膜测量系统
以 F20 平台为基础所发展的 F10-HC 薄膜测量系统，能够快速
的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上 F10-HC
软件特有的先模拟演 算法的ZG设计，能够在厚膜中测
量单层与多层(例如：底漆或硬涂层 等)。
前所未的简易操作界面
现在，具有新样板模式功能的 F10-HC 将更容易使用，这个
功能允许使用者汇入样品的影像(请参考下页)，并直接在影
像上定义测量位置。系统会自动通知使用者本次测量结果是
否有效，并将测量的结果显示在汇入的影像上让使用者分析。
不需要手动基准校正
F10-HC 现在能执行自动化基准矫正以及设置自己的积分时
间，这个创新的方法不需要频繁的执行基准矫正就可以让使
用者立即的执行样本的测量 。通自动设置积分时间完成
自动校正， 这明可以让使用者立即的执行样本的测量而
不再需要频繁的执行校正程序。
背面反射干扰
背面反射干扰对厚度测量而言是一个光学技术的挑战，具有
F10-HC 系统的独特接触式探头能将背面反射干扰的影响最
小化，使用者能以较高 的jing准度来测量涂层厚度

Filmetrics 优势
? 嵌入式在线诊断
? 免费离线分析软件
? 精细的历史数据功能，帮助用户有效的存
储，重现与绘制测量结果

免费现场演示/支持
点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场
演示！请联系我们，我们的应用工程师会
在电脑上为您演示薄膜测量是多么容易！