电子元器件在高温高湿环境下的可靠性测试新方案—高温高湿试验箱

选取具有代表性的电子元器件，如电阻、电容、芯片等。

对样品进行初始性能检测，包括电气参数、外观检查等，并记录相关数据。

根据测试要求，设置高温高湿试验箱的温度、湿度和测试时间。

预热试验箱，使其内部环境达到稳定状态。

将电子元器件正确安装在测试夹具上，并通过导线与测试仪器连接，以便在测试过程中实时监测性能变化。

注意样品之间的间距，保证良好的通风和温湿度均匀分布。

启动试验箱，开始测试。

定期（如每隔一定时间间隔）对电子元器件的性能进行监测，记录电气参数、外观变化等数据。

根据预先设定的失效标准（如电气参数超出规定范围、出现明显的腐蚀或损坏等），判断样品是否失效。

对失效样品进行解剖分析，确定失效原因和机理。