电线电缆半导电橡塑电阻测试仪

电线电缆半导电橡塑电阻测试仪1. 精度：电阻基本准确度：0.05%；方阻基本准确度：3%；电阻率基本准确度：3%

2. 大相对误差：≤±3%；整机测量标准不确定度：≤±3%

3. 采用高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD显示；操作易学，直观使用，多种参数同时显示。

4. 校正功能：可手动或自动选择测试量程，全量程自动清零。

5. 厚度可预设，自动修正样品的电阻率，无需查表即可计算出电阻率。

6. 自动进行电流换向，并进行正反向电流下的电阻率（或方块电阻）测量，显示平均值，测薄片时，可自动进行厚度修正。

7. 双电测试模式，测量精度高、稳定性好。

8. 具备温度补偿功能，修正被测材料带来的测试结果偏差。

9. 比较器判断灯直接显示，无需查看屏幕，作业效率得以提高。

10. 三档分选功能：超上限，合格，超下限，可对被测试样进行HI/LOW判断，可直接在LCD使用标志显示；也可通过USB接口、RS232接口输出更为详细的分选结果。

11. 可连接电流测试、也可不连接电脑单机测试。

12. 丰富接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。实现远程控制，U盘可记录测试数据

13. 电极（探针）：钨探针+陶瓷管+高温样品台（复合陶材料，高温不掉粉）

14. 探针间距：直线型探针，探针间距1mm

15. 样品要求：长度≥13mm、宽≥2mm或直径≥13mm

16. 电源：220V；

电源电压：AC220V，50Hz加热功率：3.75kW温控范围：室温~200℃ 控温精度：±1℃

具备定时报警功能内腔尺寸：300*300*275mm外部尺寸：580*470*445mm

操作流程和测试步骤

1.使用前期准备--测试前准备工作：

1.1.开机预热：将220V电源插头插入电源插座，打开电源开关，让仪器预热15分钟，保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动，请按以下步骤检查：

①检查电源线是否接触良好；

②检查后面板上的电源开关是否已经打开

③检查保险丝是否熔断，如有必要，请更换保险丝

④ 如经上述检查无误后，测试仪仍未正常启动，请联系本公司进行解决。

1.2.准备好被测物，链接好测试探头，把测试探头接口与主机接口相连接，并锁定，防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.

1.3.接通电源，开启电源开关，待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后，如图3，按“显示”键进入，

1.4.进入测试功能界面如图4、图5；如测试方阻时，请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”，则进入方阻测试界面；如测试其他材料时，请选择“材料”则进入材料电阻，电阻率，电导率测试仪界面。

1.5.设置好被测物所需之参数，把被测物放于测试治具平台上操作，测试完毕直接显示测试数据。如配置软件，软件操作说明书同安装软件在一起，请注意查看操作步骤.

以下分别讲解方阻和材料测试的设置

四探针双电方阻测试步骤上述步骤中1项，使用前期准备把被测物测试所需要之参数数据设定：

依据不同之测试样品，选择被测试电流，电流设置：按方向键移动光标至“电流”功能，按“设置”键进入；再按“左右”方向键选择电流数据，选择完毕后按“确定”键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.

探针间距数据的输入，探针间距出厂时已经标定，无需再次测量，探针头上有详细的探针数据资料，探针间距的设置：将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入，通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认；按照以上方法和步骤设定”厚度“，注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中，自动修正，无需再次输入和查询表格。

2.3.测试探头和测试平台操作

选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时

电线电缆半导电橡塑电阻测试仪采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求，可记录、保存、各点的测试数据，可供用户对数据进行各种数据分析。检验和分析导体材料和半导体材料，如对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试数据。

功能介绍Function Introduction  

四探针法；范德堡测量原理；通讯接口；PC软件数据分析

中英文版本；液晶显示；恒流输出

宽量程配置，依据用途选型

覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.采用四探针组合双电测量方法，液晶显示，自动测量，自动量程，自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出；选配：PC软件进行数据管理和处理.