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《COMPUT ELECTRON AGR》--基于无人机高光谱影像监测倒伏胁迫下玉米冠层叶绿素密度

2024-09-05338

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基于无人机高光谱影像监测倒伏胁迫下玉米冠层叶绿素密度
英文:Monitoring maize canopy chlorophyll density under lodging stress based on UAV hyperspectral imagery

研究单位

中国农业大学

国家农业信息技术工程研究中心

国家智能农业装备研究中心

武汉大学


摘要

倒伏导致作物产量严重下降、品质降低、机械收割难度增加,及时准确获取玉米倒伏等级空间分布信息对产量损失评估、胁迫后管理、保险理赔等具有重要意义。该研究旨在探索无人机成像技术对玉米倒伏胁迫的监测能力。在玉米倒伏控制试验支持下,以不同倒伏等级胁迫下玉米植株冠层叶绿素密度(CCD)为特征指数,分析不同倒伏等级胁迫下高光谱特征参数与CCD的关系。利用原始冠层光谱(OCS)、一阶微分(FOD)、小波系数(WC)、植被指数(VI)的敏感特征参数构建倒伏胁迫下玉米CCD的监测模型。结果表明:高光谱影像中茎秆反射率显著高于叶片,这是倒伏胁迫下冠层原始光谱发生变化的主要原因;冠层原始光谱反射率随倒伏胁迫严重程度增加而增大;CCD模型精度为VI>WC>FOD>OCS(R2分别为0.63、0.61、0.59、0.57),其中VI精度最高(R2=0.63,RMSE=0.36 g/m3),这是因为CCD不仅考虑了玉米倒伏后冠层空间结构的变化,还考虑了倒伏胁迫下玉米植株生理活动的变化。根据基于无人机高光谱影像构建的CCD模型对玉米倒伏等级进行评价。

研究数据

高光谱数据:高光谱数据由Cubert S185机载高速高光谱成像仪获取。该成像仪采用框幅式高光谱成像技术,能以更快的速度进行所有光谱通道同步成像,在1/1000秒内获得整个高光谱立方体数据,配套功能强大的测量及处理软件,快速获取大面积高光谱图像,影像具有厘米级地理坐标信息。

图1 S185高光谱成像系统及其参数

研究过程

图2 研究区域地理位置

图3 玉米倒伏人工控制照片

图4 试验田玉米倒伏类型(RL:根倒伏;SB1:玉米茎秆在第3节间处弯曲;SB2:玉米茎秆在玉米穗下部节间处弯曲;SI60°、SI45°、SI30°分别为玉米茎秆倾斜60°、45°、30°;CK:对照的直立植株)

图5 数据采集照片

图6 实验地块高光谱影像真彩色合成图(VT:抽穗期;R3:乳熟期)

图7 实验地块的高光谱立方体图像

图8 玉米植株倒伏示意图、冠层高度(h)和倒伏后冠层高度(hL)、地块面积(A)和采样面积(s

表1 VI的计算公式

图9 不同倒伏程度玉米的OCS变化

图10 不同倒伏等级玉米冠层光谱红边位置

图11 不同倒伏程度的冠层图像

图12 玉米叶片和茎秆的光谱曲线

图13 不同倒伏程度CCD的变化
图14 CCD与OCS之间的关系
图15 CCD与FOD之间的关系

图16 CCD与WC之间的关系

表2 各尺度下最大相关系数的绝对值

表3 CCD与VI之间的相关性(n=38)

表4 每个特征的敏感参数

17 基于OCS(a)、FOD(b)、WC(c)和VI(d)构建模型估算的CCD与实测CCD之间的关系

18 CCD空间分布图(注:CCD<0为玉米叶片阴影、玉米植株之间的间隙以及倒伏暴露的土壤)

研究结论

针对作物倒伏胁迫,基于无人机高光谱影像进行CCD估算和倒伏等级监测。构建表征玉米倒伏严重程度的CCD指数,该指数融合了作物结构参数和生理参数,能够解释倒伏胁迫下作物冠层结构的变化和对作物生理活动的影响。分析了不同倒伏等级下玉米冠层光谱与CCD的变化特征,探究不同光谱参数与CCD的内在联系,并在特征变换和CCD模型构建方面开展了一系列研究。结论如下:(i)随着倒伏等级的增加,玉米冠层光谱反射率增大,红边位置向短波方向移动;(ii)倒伏胁迫越严重,CCD越高;特征变换提高了FOD、WC、VI与CCD的相关性,相关性高于OCS。(iii)基于VI的敏感参数构建CCD模型,R2=0.63,RMSE=0.36 g/m3,得到了不同倒伏等级下CCD的空间分布情况。结果验证了CCD为利用无人机高光谱影像进行作物倒伏等级评估提供了一种可靠、准确的方法,且能够满足田块尺度上作物倒伏等级识别的需求,为无人机高光谱监测作物倒伏信息提供了依据。

原文链接:

https://doi.org/10.1016/j.compag.2021.106671

END







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