产品介绍:
SpectrumTEQ-PL
光致发光量子效率测量系统
SpectrumTEQ-PL系列光致发光量子效率测量系统,针对器件的光致发光特性进行有效测量,可在手套箱内完成搭建,无需将样品取出,即可完成光致发光量子效率的测试。系统搭配QE Pro光谱仪为业内公认旗舰系列,信噪比高、杂散光低,
动态范围大,适合不同波段和强度的激发光发射光测量。同时,系统配有强大的测试软件,向导式的软件操作逻辑让测试过程变的简单,迅速。
应用:
无机光致发光
有机光致发光
EL器件封装前体
优势:
体积小巧:便于灵活使用及运输
原位测量:可放至手套箱内,实现原位测量
结构稳定:设备无需频繁校准
光谱仪 | 型号 | QEPro/QE65Pro(可选) | |
光谱范围(nm) | 350-1100 | ||
信噪比 | 1000:1 | ||
分辨率 | 2.5nm(FWHM) | ||
动态范围 | 85000:1(QEPro单次采集);25000:1(QE65Pro单次采集) | ||
AD位数 | 18-bit(QEPro);16-bit(QE65Pro) | ||
积分球 | 尺寸 | 3.3" | |
涂层材料 | Sperctralon | ||
激发光源 | 365-880nm光纤耦合高功率LED;强度可调 | 典型半峰全宽 (FWHM)=14nm@405nm |
香港电子器材有限公司
仪器网(yiqi.com)--仪器行业网络宣传传媒