香港电子器材有限公司
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自动特性图示仪

产品简介

什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案，从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。

RTI's MT Century Curve Tracer 

RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备，zui多到96个channel，提供4种型号可供客戶选择，一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系統。MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性，功率和软件。像其他RTI机型一样，MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。

RTI's MultiTrace Test System

原來的自动曲线跟踪器已经提供超过10年。这款系统可以zui高检测达625引脚。 它有各种尺寸可供选择，以满足zui广泛用戶的需求。 




RTI's MultiTrace 625 引脚 PGA FixtureRTI's MultiTrace 自动 DC Parametric 測試系統StdTrace 软件追踪报告

StdTrace 软件报告大量的参考资料测试排列软件


MultiTrace 的应用:

  • 无源曲线追踪器 (Unpowered Curve Tracing):检测开路，短路和漏电流

  • 有源曲线追踪器 (Powered Curve Tracing): 
    检测漏电流，供电电流问題。 测量大量有用的參数

  • 电源电流测量(Supply Current Measurements): 
    两种方法來測量电流供应 。 
    A 6-Bus 系統可同時对3组电源測量

  • Latch Up 测试: (选配)
    根据JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .

 

基础 Curve Tracing 的应用:

  • Input-Output 转换功能:
    将输入电压接到引腳上，测量輸出引脚电平变化.

  • 对晶体管做曲线分析:
    检测任何型号的晶体管

  • 显微鏡:
    使用显微镜定位原件的损伤部位.

  • IDDQ 测试:
    测量芯片每个状态的电流输入

  • 功能性的引导能力:
    Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing根据所輸入信息改变输入 Pin的状态，然后进行量测。測量輸出区域的功能测试状态。

  • Kelvin 4-Wire 阻力测试:
    使用這种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据，实现精密的电阻測量。


RTI's MegaTrace 自动直流參數曲线追踪

MegaTrace由648引脚开始一直到2160的引脚，因此其有足夠的能力來测试几乎任何芯片。机器集成化较高，机台很容易移动，也可以与其他仪器如显微鏡，探针台，以及其他远程测试机器一起使用。


 


曲线追踪功能

其它测量及测试功能


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