| 型号 | C10178-02 |
| 可测膜厚范围（玻璃） | 20 nm to 30 μm*1 |
| 测量可重复性（玻璃） | 0.02 nm*2 *3 |
| 测量准确性（玻璃） | ±0.4 %*3 *4 |
| 光源 | D2-Halogen light source |
| 光斑尺寸 | Approx. φ1 mm*3 |
| 工作距离 | 10 mm*3 |
| 可测层数 | Max. 10 layers |
| 分析 | FFT analysis, Fitting analysis, Optical constant analysis |
| 测量时间 | 19 ms/point*5 |
| 光纤连接头 | φ12 sleeve shape |
| 外部控制功能 | RS-232C, PIPE, Ethernet |
| 电源 | AC100 V to AC240 V, 50 Hz/60 Hz |
| 功耗 | Approx. 210 VA |
| 测量波长范围 | 200 nm to 950 nm |
| 接口 | USB 2.0 |
| 测量模式（特征） | supports UV |
*1 转换时玻璃的折射率是1.5
*2 测量400 nm玻璃薄膜厚度时为标准偏差（公差）
*3 取决于光学系统或物镜放大倍数
*4 测量保证范围同VLSI标准测量保证文件一致
*5 最短曝光时间
● 高速、高准确性（可测膜厚范围（玻璃）：20 nm-30μm）
● 实时测量
●
非恒定膜层的精确测量
● 分析光学常量(n, k)
● 可外部控制
● 可以使用特定附件测量量子产率，反射率，透射率和吸收率
C10178型光学纳米膜厚测量系统是一款利用光谱干涉法测量薄膜厚度的非接触式测量系统。光谱干涉法可以快速、高精度以及高灵敏度地测量出薄膜厚度。滨松的产品使用多通道光谱仪PMA作为检测器，测量各种光学滤光片和涂膜厚度的同时还可以测量量子产率，反射率，透射/吸收率等参数。
C10178-02支持UV（200 nm至950 nm）。
滨松光子学商贸（中国）有限公司
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