| 图像尺寸 | 28.672 x 0.896 mm |
| 有效像素个数 | 2048 x 64 pixels |
| 像素尺寸 | 14 x 14 μm |
| 光谱响应范围 | 200 to 1100 nm |
| 帧速率（典型值） | 106 frames/s |
| 线速率（典型值） | 106 lines/s |
| 线速率（最大值） | 200 line/s |
| 暗电流（典型值） | 50 e-/pixel/s |
| 读出噪声（典型值） | 6 e- rms |
| 制冷 | One-stage TE-cooled |
| 窗材料 | AR-coated sapphire |
| 封装 | Metal |
| 测试条件 | Typ. Ta=25 ℃, unless otherwise noted, frame rate: full line binning, Dark current: MPP mode |
| 制冷 | 14 μm |
| 类型 | 低标准具效应型 |
| 感光面积 | 28.672 x 0.896 mm |
| 封装 | 金属 |
| 饱和电荷量（典型值） | 60 ke- |
● 降低标准具效应
● 平滑的响应曲线
● 一级温度控制
● CCD结灵敏度高：6.5 μV/e-
● 高满井容量，宽动态范围（带抗溢流功能）
FFT-CCD area image sensor / Technical information [447 KB/PDF]
降低标准具效应、象元温度恒温控制
S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照式CCD。有两种类型可选择，一种是低噪声类型(S11850-1106)，一种是高速型 (S11851-1106)，它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段，它们具有几乎平滑的光谱响应特性，还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器，可以保持象元温度在工作时恒定（约5摄氏度）。
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