图像尺寸 | 28.672 x 0.896 mm |
有效像素个数 | 2048 x 64 pixels |
像素尺寸 | 14 x 14 μm |
光谱响应范围 | 200 to 1100 nm |
帧速率(典型值) | 651 frames/s |
线速率(典型值) | 651 lines/s |
线速率(最大值) | 2875 line/s |
暗电流(典型值) | 50 e-/pixel/s |
读出噪声(典型值) | 23 e- rms |
制冷 | One-stage TE-cooled |
窗材料 | Quartz glass |
封装 | Metal |
测试条件 | Typ. Ta=25 ℃, unless otherwise noted, frame rate: full line binning, Dark current: MPP mode |
制冷 | 14 μm |
类型 | 低标准具效应型 |
感光面积 | 28.672 x 0.896 mm |
封装 | 金属 |
饱和电荷量(典型值) | 60 ke- |
● 降低标准具效应
● 平滑的响应曲线
● 一级温度控制
● CCD结灵敏度高: 8 μV/e-
● 高满井容量,宽动态范围(带抗溢流功能)
Image sensors / Precautions [621 KB/PDF]
Image sensors / Selection guide [15.34 MB/PDF]
FFT-CCD area image sensor / Technical information [447 KB/PDF]
降低标准具效应、象元温度恒温控制
S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照式CCD。两种类型可选,一种是低噪声类型(S11850-1106),一种是高速型 (S11851-1106),它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段,它们具有几乎平滑的光谱响应特性,还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器,可以保持象元温度在工作时恒定(约5摄氏度)。
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