iPHEMOS-DD倒置发射显微镜 C10506-05-16产品样册-滨松光子学商贸（中国）有限公司

资料简介：

倒置发射显微镜是一款背面分析系统，用于侦测和识别半导体器件上的光发射和热发射。样品可以轻松地安装到探针卡上面实施点针，信号从器件背面侦测。平台下方可以选配多款不同种类的探测器和激光，使之完成多种探测方式。例如光发射和热发射分析，近红外-光束诱导电阻阻值变化分析，和一些其他的分析方式完成动态分析，满足客户需求。 Iphemos-DD将样品直接连接到测试机上，再把测试机架装到设备上方能够有效减少线缆长度，这使得高频驱动样品的分析成为可能，这种直接架装方式可用于点针侦测12英寸晶片，也可用来侦测封装好的样品。