微米膜厚测量仪 C11011-21W产品样册

2020-03-10617

资料简介：

C11011-21W型光学微米膜厚测量仪利用激光干涉法原理，测量速度达60Hz，适用于产品线上在线测量。此外，与mapping工作台联用可以用于测量指定样品的厚度分布。C11011-21W应用广泛，比如用于产品制造过程监控或质量控制。 C11011-21W可测玻璃膜厚范围分别为25 μm 到2900 μm 和10 μm 到 1200 μm，可测层数Z多为10层。