IS-LI & IS-LI-TE
光强分布高速测量系统可针对 LED 和其它小型光源,提供远场发光强度、辐射强度、CIE 色坐标和相关色温 (CCT) 等关于角度分布的全面测量。IS-LI 可提供测试仪无法提供的重要方向性信息。
IS-VA
视角性能系统可高速、全面地测量平板显示器和显示器配件的色度、亮度和对比度等项目随视角的分布。IS-VA 在测量速度和系统成本方面可与锥光偏振仪和测角系统相媲美。
IS-SA
散射和外观测量系统集成了一个聚焦光源,可直接照射到材料样本上,以测量散射光。IS-SA 可准确、快速地描述各种反射表面和透光薄膜的表面粗糙度、缺陷和漫反射特性。比起测角仪系统,IS-SA 有更细小的角度分辨率和更快的测量速度,能生成详细的 BRDF 和 BTDF,而且它在配置测量方面具有更大的灵活性。
Imaging Sphere 软件
Imaging Sphere 配备强大易用的,基于 Imaging Sphere 软件引擎的 IS 1.x 仪器控制和分析软件。IS 1.x 软件可简化测量设置和控制,并可轻松访问各种图像分析功能,包括 2D 和 3D 图、直方图和图像差分。软件功能可以靠外部控件 ISEngine.Net (Framework 2.0) 来控制,因此用户可以使用 Visual Studio 2005 或其它兼容 .Net 的编程语言构建自定义测试和分析序列。
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