北京先锋泰坦科技有限公司
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OLED 残影测试系统

目前市面主流的OLED 屏幕手机普遍存在烧屏现象，众所周知，烧屏现象是一个长期累积的过程，所以终端厂商普遍要求屏厂提供短期的残影测试报告，以便能够管控OLED 屏幕的品质，降低烧屏现象；
ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象；
主要功能
• 短期残影测试；
• 亮度均匀性测试；
• 屏幕长期稳定性测试
软件界面

技术规格参数

亮度范围

0.0001 to 100000cd/m2

亮度精度

±3%*1

像素

1900*1200

采样速率

≥1fps*2

镜头

24mm,28mm,35mm,50mm

可选

工作距离

＞ 350mm

空间分辨率

0.12mm*3

PG

可支持市面主流厂商 PG

样品ZD尺寸

190mmX110mm*3

样品类型

手机屏 \ 模组

稳定性

<0.5%

Pattern

客户可自定义

Pattern
*1:A 光源条件下测试精度；*2: 曝光时间<200ms; *3: 测试条件为28mm 镜头，工作距离为500mm
探头稳定性曲线

某国产手机屏幕短期残影曲线
ZL-ISS 是一套卓立汉光专门针对OLED 屏幕短期残影的表征系统，采用高灵敏度的快速亮度计，实现高效表征屏幕的残影现象
1OLED 残影测试系统
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