详细信息
众所周知，光谱式测量为CCFL、LED 背光LCD 及OLED 等平板显示技术提供了ZG精度的亮度、色度测量。现有的光谱式测量的主要不足是需要很长的测试时间。Photo Research 的A-TAKT™ 系列光谱式辐射度计弥补了这一不足，实现了光谱式精度的实时产线测试。 A-TAKT™ 系列包含三款——V-7HS、V-7WD 和V-6AQL。V-7HS是三者中灵敏度ZG、测试速度最快的机型，能够在仅250ms的测试时间内实现0.5cd/m2 的微弱亮度测试（如测试LED 背光LCD）；V-7WD 则提供了高速测量的解决方案，针对LCD 背光模组等具备更高光强的测试；而V-6AQL 则提供了更低成本的解决方案，针对关键环节的测量，如AQL、IQC 及OQC 等。
所有三款机型都是基于CCD 进行探测而不需通过目镜观测，同时可调取、使用测试对象的图像。RS232 和USB 接口以及加固的附件可增加仪器在恶劣环境中的使用安全。自带的1/4-20 SAE 螺纹孔使得仪器非常便于安装和固定。
物镜可从定焦50mm 到变焦75mm 的镜头中进行选择；也可根据用户实际产线测试需求进行定制镜头。您也可以选择带有屏敝罩的特殊的亮度配件用于屏蔽测试时的外界环境杂散光的影响。
A-TAKT™ 系列测试设备支持通过文本编程通讯协议或SDK 进行控制，并与Windows Vista 32 或64 bit（或更高版本）及OSX（10.7+）兼容。
灵活的定制 由于产线测试环境的不同（如工作距离、测试区域和系统控制接口等），A-TAKT™ 可提供不同配置，包括镜头的定制（满足不同工作距离、光斑尺寸的测试需求），易于开发的SDK 包以便更快捷、轻松的集成到用户的ATE 系统。
为确保A-TAKT™ 始终保持测试的JZ度和重复测试精度，我们集成了“EasyProfile”技术——针对A-TAKT™ 不同测试对象的自分析技术，所得分析数据使设备在确保科学级的准确性和精确度前提下实现最快的测试速度。
A-TAKT™ 控制软件
• A-TAKT™ SDK 软件包使得A-TAKT™ 系列测试设备非常方便的实现与您的不同产线测试环境集成、控制；
• 与Windows Vista, Windows 7, Windows 8-32/64 或MAC OS X10.7+ 兼容；
• "EasyProfile" ZY化功能确保得到最快、最JZ的测试结果；
• 选取、调用测试目标图像；
• 仪器控制——设置，测试和数据收集；
• 可定制的软件选项确保A-TAKT™ 系列测试设备与您的产线测试需求实现ZY化的整合。
高精度，快速测量，针对于低亮测试应用-V-7HS
A-TAKT™ V-7HS • 在不影响测试JZ度和重复测试精度的前提下，最短时间内实现ZD数量的产品测试；
• 几秒钟内实现完整的灰度等级、Gamma 和色度测试（取决于亮度等级和测试数量）；
• 近乎实时的高JZ、高重复性光谱辐射度计；
• 热电制冷保持产线测试环境中的测试稳定性；
• 毫秒时间内实现极低亮度的测试；
• 可针对您的不同测试需求进行定制。
快速，高光谱分辨率，适用于高亮发光源的测试-V-7WD
A-TAKT™ V-7WD • 针对FPD 背光模组等高亮发光源的极高JZ度和重复精度的ZY化测试；
• 近乎实时的高JZ、高重复性光谱辐射度计；
• 热电制冷保持不同产线测试环境中的测试稳定性；
• 快速、高光谱分辨率，针对高亮背光模组、LED 模组等；
• 可针对您的不同测试需求进行定制。
经济、便携的解决方案，适用于QC/QA 测试-V-6AQL
A-TAKT™ V-6AQL • 为您的AQL 应用提供非常JZ的光谱式解决方案；
• 简洁的工业检测量身定制；
• 光谱式设计保证JZ度和重复精度，满足或优于您的生产需求；
• 可针对您的不同测试需求进行定制。
产品优势
光谱式测量为CCFL、LED背光LCD及OLED等平板显示技术提供了高精度的亮度、色度测量。现有的光谱式测量的主要不足是需要很长的测试时间。Photo Research的A-TAKT™系列光谱式辐射度计弥补了这一不足，实现了光谱式精度的实时产线测试。
技术资料
热线电话
在线咨询
长按识别二维码查看信息详情