详细信息
PSEL劳厄单晶取向测试系统: • PSEL 软件定向误差低至 0.05 度; • 多晶硅片二维定向mapping; • 大批量样品筛选; • 超20kg 重负荷样品定位 • 超大行程样品台可选,用于“燃机叶片”等测试; • 工厂接收客户需求定制 水平放置系统
特征 | 优点 |
<200um 光束尺寸 | 可测量小 晶体 |
电动位移台 | 可沿生长轴轴向扫描 |
电动角位移 | 与同步加速器/中子设备直接兼容 |
手动角位移 | 与切割刀具直接兼容 |
垂直放置系统
特征 | 优点 |
<200um 光斑 | 适用于小晶粒的多晶结构 |
大范围电动线性扫描位移台 | 允许自动晶圆mapping或多个样品 |
电动Z 轴驱动 | 适用大尺寸晶棒或样品 |
手动角位移 | 允许定位到+/- 0.02度精度 |
配备PSEL CCD 背反射劳厄X-RAY 探测器:
• 有效输入探测面约: 155*105 mm
• 最小输入有效像素尺寸83um,1867*1265 像素阵列
• 可选曝光时间从1ms 到35 分钟
• 芯片上像素叠加允许以牺牲分辨率为代价增强灵敏度
• 自动背景扣除模式
• 16 位高精度采集模式
• 12 位快速预览模式
• PSEL 劳厄影像采集处理专业软件
劳厄影像校准软件:
• 自动检测衍射斑点,并根据参考晶体计算斑点位置; • 根据测角仪和晶体轴自动计算定向误差( 不需要手动拟合扭曲的图形)
• 以CSV 格式保存角度测量值,以进一步保证质量的可追溯性;
• 顶部到底部的终端用户菜单,允许ZS结晶学用户自行逐步确认定位程序;
• 基于Python 的软件,允许使用套接字命令对现有软件/ 系统进行远程访问控制;
系统附件包括: • 劳厄X-RAY 探测器
• 劳厄校准软件
• 高亮度X-RAY 发生器
• 电动/ 手动 角位移台& 高精度位移台;
• 样本定位/ 视频监控 摄像头;
• 激光距离传感器/ 操纵杆 PSEL劳厄单晶取向测试系统应用方向: • 探测器材料: HgCdTe/CdTe, InGaAs, InSb;
• 窗口玻璃材料& 压电/ 铁电陶瓷: Al2O3,Quantz,LiNbO3
• 金属合金: 钨,钼,镍基合金;
• 激光晶体材料: YAG, KTP, GaAs
• 薄膜/ 半导体基地材料: AIN, InP SiC;
• 燃气轮机叶片;硅基,镍合金
• 磁性& 超导材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe, NbSn/NbTi
• 闪烁体材料: BGO/LYSO, CdWO4,BaF2/CaF2; 典型劳厄衍射应用图样:
产品优势
系统附件包括:
• 劳厄X-RAY 探测器
• 劳厄校准软件
• 高亮度X-RAY 发生器
技术资料