北京先锋泰坦科技有限公司
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Black-wave凹面光栅光纤光谱仪

Black-wave 凹面光栅光纤光谱仪
• 独特凹面光栅设计,用于UV/VIS/NIR 应用
• 减少表面光折射
• 平滑光栅降低光散射
• 紫外灵敏度增强
• 减少偏差( 散光,球面像差)
• 极大的减少光谱仪中杂散光,获取WM光谱曲线

规格参数

动态范围

光学分辨率

2000:1 with 6 decades

尺寸

功率

69 x 100 x 150 mm

see above

100 mA @ 5 VDC

探测器类型

2048 pixel CCD, PDA opt.

接口

USB-2 or Wifi, RS232, SPI,

4-20mA Digital I/O or ethernet

探测器范围

200-1080 or 220-1100 nm

数据传输 速度

30Hz or 1000Hz

像素尺寸

14 μm x 200 μm

积分时间

1 ms to 8minutes

凹面光栅

Aberration corrected

狭缝选择

14, 25, 50, 100, 200 μm

光栅类型

Holographic, 590 g/mm

杂散光

0.02% at 435nm; 0.2% at 200nm

光学平台

f/2, Flat field - No mirrors

光纤输入

SMA905 0.22NA single fiber

A/D 转换

16-bit

操作系统

Windows and Linux, Android, iOS

信噪比

1000:1 CCD, PDA 2000:1

软件

SpectraWiz program & apps


标准型号

BLACK- Comet

Wavelength

Range (nm)

Grating

(g/mm)

Slit-200 (nm) res.

Slit-100 (nm) res.

Slit-50 (nm) res.

Slit-25 (nm) res.

Slit-14 (nm) res.

BLK-C

190-850

590

6.0

3.0

1.5

0.85

0.75

BLK-CXR

280-900

590

6.0

3.0

1.5

0.85

0.75

BLK-C-SR

200-1080

concave

8.0

4.0

2.0

1.5

1.3

BLK-CXR-SR

220-1100

concave

8.0

4.0

2.0

1.5

1.3

高分辨率型号

BLACK-Comet model

Wavelength Range (nm)

Grating (g/mm)

Slit-14(nm) res.

BLK-C-HR-UV

200-600

590

0.40

BLK-C-HR-VIS

380-750

590

0.40

• 独特凹面光栅设计,用于UV/VIS/NIR 应用
• 减少表面光折射
• 平滑光栅降低光散射
• 紫外灵敏度增强
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