英国DEBEN MICROTEST 2000E系列原位动态拉伸试验台

扫描电镜中的材料允许我们在微结构层级进行动态的机械特性研究。当同时装备EBSD设备，可以通过对晶体的结构的分析，，实时研究材料的织构等随拉伸载荷和/或温度的变化而发生的变化。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸台设计可以对金属样品施加高达2000N的拉力，用户EBSD分析，或者对一些其他材料进行常规的应力-应变分析和SEM成像。试样夹具70度角度倾斜，为EBSD分析提供了的设置。
　　MICROTEST 2000E系列拉伸台可直接安装在一些SEM的标准样品台上，或者在某些情况下可能需要C1000XYX替换样品台。该样品台页可以在电子显微镜之外使用。
　　MICROTEST 2000E可以在拉伸或者压缩模式下工作。配备的功能丰富的软件能够进行恒速、恒载荷或低频循环操作，以其他功能，例如按斜坡达到预设载荷。应力应变曲线可以在显示器上实时图形绘制，图形显示带有特性游标，可选多量程和缩放功能。MTVideo选项同步视频和数据采集，从而允许随后对变形样品的视频进行详细分析。
　　对于可变温度研究。可以在MICROTEST 2000EW（水冷版本）平台上EBSD的几何位置上选配加热夹具，加热夹具的温度可高达500℃。

技术特点：

1、载荷：2000N测力传感器，精度1%量程，解析能力0.1%量程
2、长度和拉伸量：夹具间距：10mm，伸长量：10mm，线性延伸计：3μm解析能力和10μm精度
3、速度范围：0.033mm/min– 0.4 mm/min
4 、较大样品尺寸：29×27×5（L,W,Hmm）对EBSD样品夹具
5、产品规格：196 ×96×53（L,W,Hmm）重量~3.4kg（2000ES）；~3.9kg（2000EW）

应用领域：

1、 金属与合金：研究与应力-应变分析相关的晶粒的晶体学旋转。
　　缺陷的演变和应变的积累；
　　加热样品，研究再结晶
2、其他（非晶）材料：在SEM中动态研究微裂纹扩展及在微观尺度上其他失效和变形机制；

注：也可选择MICROTEST 5000系列拉伸台用于EBSD的材料测试系统