产品描述：
Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，可以将成像和分析全面性能与环境模式（ESEM）相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。
Quattro的场发射电子枪（FEG）确保了优异的分辨率，通过不同的探测器选项，可以调节不同衬度信息，包括定向背散射、STEM和阴极荧光信息。来自多个多个探测器和探测器区分的图像可以同步采集和显示，使得单次扫描即可获得样品信息，从而降低电子束敏感样品的束曝光并实现真正额动态试验。Quattro的三种真空模式使得系统极具灵活性，可以容纳zui广泛的样品类型，无论样品导电、绝缘、潮湿或是在高温条件下，均可获得可靠的分析结果。Quattro独特的硬件有用户向导支持，不仅可以指导操作者，还可以直接进行交换，轻松缩短结果获取时间。
金属及合金、断口、焊点、抛光断面、磁性及超导材料
陶瓷、复合材料、塑料
薄膜/涂层
地质样品断面、矿物
软材料：聚合物、药物、滤膜、凝胶、生物组织、植物材料
颗粒、多孔材料、纤维
水合/脱水/湿润/接触角分析
结晶/相变
氧化/催化
材料生成
拉伸（伴随加热或冷却）
产品参数：
发射源：高稳定型肖特基场发射电子枪
分辨率：
型号 | Quattro C | Quattro S |
高真空 | ||
30 kV（STEM） | 0.8 nm | |
30 kV（SE） | 1.0 nm | |
1 kV（SE） | 3.0 nm | |
高真空下减速模式 | ||
1 kV（BD+BSED） | 3.0 nm | |
1 kV（BD+ICD） | 2.1 nm | |
200 V（BD+ICD） | 3.1 nm | |
低真空 | ||
30 kV（SE） | 1.3 nm | |
3 kV（SE） | 3.0 nm | |
30 kV（BSE） | 2.5 nm | |
环境扫描模式 | ||
30 kV（SE） | 1.3 nm | |
放大倍率：6 ~ 2,500,000×
加速电压范围：200 V ~ 30 kV
着陆电压：20 eV~30 keV，电子束减速可选
探针电流范围：1 pA ~ 200 nA，连续可调
X-Ray工作距离：10mm，EDS检出角35°
样品室：从左至右为340mm宽的大存储空间，样品室可拓展接口数量12个，含能谱仪接口3个（其中2个处于180°对角位置）
样品台和样品：
探测器系统：
同步检测多达四种信号，包括
样品室高真空二次电子探测器ETD
低真空二次电子探测器LVD
气体SED（GSED，用于环境扫描模式）
样品室内IR-CCD红外相机（观察样品台高度）
样品导航彩色光学相机Nav-Cam™
珀尔帖台集成式STEM，用于观察湿薄样品- WetSTEM™
控制系统：
操作系统：64位GUI（Windows 7）、键盘、光学鼠标
图像显示：24寸LCD显示器，WUXGA 1920×1200
定制化的图像用户界面，可同时激活多达四个视图
导航蒙太奇
软件支持Undo和Redo功能
特点与用途：
在自然状态下对材料进行预案为研究，具有环境真空模式（ESEM）的独特高分辨率场发射扫描电镜；
zui大程度缩短样品制备时间：低真空和环境真空技术可针对不导电和/或含水样品直接成像和分析，样品表面无荷电累积；
在各种操作模式下分析导电和不导电样品，同步获取二次电子像和背散射电子像；
zhuo越的分析性能，样品仓可同时安装3三个EDS探测器，其中2个EDS端口分开180°、WDS和共勉EDS/EBSD;
针对不导电样品的zhuo越分析性能：凭借“压差真空系统”实现低真空模式下的精确EDS和EBSD分析；
灵活、精确的优zhong心样品台，105°倾斜角度范围，可全方位观察样品；
软件直观、简便易用，并配置用户向导及Undo（撤销）功能，操作步骤减少，分析更快速；
全新创新选项，包括可伸缩RGB阴极荧光（CL）探测器、1100℃高真空热台和AutoScript；
北京欧波同光学技术有限公司
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